参考文献
 
生不同衰减的X线作用在屏/片系统,形成不同密度的 X线胶片影像。传统拍摄模式存在量子检测效率较低
（仅为20%～30%）、不便于存储、成像速度慢、辐 射剂量高等缺陷。DR系统由于使用了平板探测器， 实现了图像数字化，成像质量也大幅提高。
高质量图像：TFT像素的尺寸直接决定了图像的 空间分辨率，最高可达3.6 LP/mm，图像数据动态范 围为14 bit，最高可达到16 bit，DQE和MTF高，图像 层次丰富。
时间分辨力高：成像速度快，在曝光后几秒即可 显示图像，非晶硒平板探测器的成像时间25 s，非晶 硅平板探测器的成像时间可以缩短到6 s～7 s，从而改

 
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